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平行平晶規(guī)格

日期:2024-11-16 01:01
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摘要:
平行平晶規(guī)格
    平晶有平面平晶和平行平晶兩種。平行平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差,為用平面平晶檢驗量塊測量面的平面度誤差。平行平晶的兩個光學測量平面是相互平行的,用于測量兩高光潔表面的平行度誤差,例如千分尺兩測量面的平行度誤差.平晶用光學玻璃或石英玻璃制造。圓柱形平面平晶的直徑通常為 45~150毫米。其光學測量平面的平面度誤差為:1級精度的為0.03~0.05微米;2級精度的為0.1微米。常見的長方形平面平晶的有效長度一般為200毫米。
1、平面平晶 YDF-1 標準外形尺寸 單位:mm
規(guī)格30 45 60 80 100 150 200 250
直徑30 45 60 80 100 150 200 250
高度15 15 20 20 25 30 40 45 平晶
特殊規(guī)格尺寸平面平晶,環(huán)形平面平晶,方形平面平晶可定做.
2、平面平晶制成兩種精度: 1級 和 2級
3、平面平晶工作面的平面度偏差允許值為:
直徑為 30至60mm 1級平晶 0.03μm
直徑為 30至60mm 2級平晶 0.1 μm
直徑為 80至150mm 1級平晶 0.05μm
直徑為 80至150mm 2級平晶 0.1 μm
更大尺寸平面平晶平面度偏差允許值,根據(jù)國家標準。
4、平面平晶工作面的局部偏差允許值為: 0.03μm
5、平面平晶測量工作應在室溫2 0℃±3℃條件下保持數(shù)小時后進行。

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